OptoWave 40

Das OptoWave 40 ist ein vollwertiges Interferometer zur kontaktlosen Messung flacher und sphärischer Flächen sowie von übertragenen Wellenfronten optischer Komponenten und Bauteile. Das OptoWave 40 ist ideal zur Vermessung zahlreicher optischer Komponenten wie Kontaktlinsen, Intraokularlinsen und Formeinsätzen. Die Messung können mithilfe einer einfachen visuellen Streifenanalyse, der statischen IntelliPhaseTM-Spatial-Carrier-Analyse oder einer phasenmodulierten Interferogramm-Analyse erfolgen. Das OptoWave 40 ist eine flexible Erweiterung moderner Anwendungen mit enormem Mehrwert. 

Kontaktlose und übertragene Wellenfrontmessung optischer Komponenten und Bauteile 

Anwendung 
– Übertragung und Oberflächenprüfung an kleinen Optiken 
– Vermessung von Optiken, Fertigteilen, Keramiken, Halbleitern und Halbleiterscheiben 
– Integrierte ROC-Messung 

Hauptmerkmale & -vorteile 
– 6x Zoom zur Vermessung von Teilen mit einem Durchmesser bis zu 0,5 mm 
– 3 Modi zur Interferogrammanalyse - Phasenwechsel 

IntelliPhase^TM - statische Analyse von Spatial Carrier oder Streifenverfolgung (automatisch oder manuell 
– Klein- und Formfaktordesigns zur einfachen Integration in OEM-Systeme 
– Kompaktes, robustes Design 
– Übertragungsbereich von F/0.7 bis F/6.0

– Phasenwechsel oder statische Erfassung und Analyse

– Spitze-Spitze-Wert, RMS-Messungen, Strehl-Zahl

– Zernike- und Seidel-Analyse

– Diffraktionsanalyse (PSF, MTF, Encircled Energy)

– Geometrische Analyse (Geometrische Punktdiagramme, Encircled Energy)

– Automatisierung für den Fabrikeinsatz

– Leistungsfilter- und Mittelungsfunktionen für verrauschte Daten

– Schnittstelle zu MATLAB^TM, IDL^TM, MS Excel^TM und LabVIEW^TM

– IntelliPhase^TM – statische Analyse von Spatial Carrier